随着现代社会电子设备的增多，确保各种电子设备不相互干扰并不容易。这一困难不仅体现在如何控制设备的电磁骚扰发射以及如何降低设备对电磁骚扰的敏感性，还体现在确定设备的骚扰发射强度和敏感度的控制程度上。
尽管控制越严格，电磁兼容性的风险就越小，但可能会导致产品成本的增加。如果控制不够，就会发生严重的相互干扰。
幸运的是，一些世界组织投入了大量资源来研究这些问题，并提出了一些标准。我们只需要执行这些标准。这些标准不仅规定了骚扰发射的强度和敏感性限制，而且规定了明确的测试方法。只要我们按照这些标准的要求进行测试，只要测试结果符合标准的要求，电子设备相互干扰的风险就会大大降低。
因此，电子设备的电磁兼容性要求主要体现在电磁兼容性试验中。电磁兼容性试验模拟了现实中可能出现的电磁兼容性问题。电磁兼容性试验分为两个方面，如图所示。一是测试设备的电磁骚扰发射，主要检查设备对其他设备的骚扰情况。该试验称为EMI试验。试验结果取决于电子设备产生的骚扰强度是否低于标准规定的值。EMI测试是一个测试项目，许多电子设备不容易通过。主要原因是大多数设计师不知道电磁骚扰是如何产生的，所以他们不知道如何控制它。
另一种是对设备的骚扰敏感性进行测试，主要是检查设备对外部电磁骚扰的抵抗力。这种测试称为EMS测试。测试结果表明，当电子设备受到特定类型和强度的电磁骚扰时，主要技术指标是否会降低，以确定产品是否合格。对于硬件工程师来说，一些EMS测试令人头痛，例如静电放电敏感性测试。
电磁兼容性试验通常在屏蔽暗室中进行。所谓的屏蔽暗室是一个带有吸收材料的屏蔽室。一方面，屏蔽的作用是防止外部骚扰进入房间，影响EMI的测量，另一方面是防止EMS试验中的内部骚扰进入外部，对外部电子设备部电子设备产生不利影响。吸波材料是为了防止电磁波在屏蔽室内反射，这将导致测试误差和测试结果的重复性较差。
点击立即申请行业解决方案！
